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芯片電路修改
結構觀察
成分分析
光譜能量分析儀(yi)
EDS全稱為(wei) Energy Dispersive Spectrometer,EDS是電子顯微鏡(SEM掃描電鏡、TEM 透射電鏡)的重要附屬配套儀(yi) 器,主要利用電子束撞擊在樣品上所激發的特征X光來進行待測樣品的定性或半定量化學成份分析。
樣品元素分析,被動件真偽(wei) 鑒別
軟性材料、硬性材料、複合材料