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我們(men) 的項目
X-RAY檢測
功能檢測
粒子碰撞噪聲檢測
密封
內(nei) 部水汽含量
超聲波掃描(SAT檢測)
可焊性測試
開蓋測試
鍵合強度
芯片剪切強度
結構
外觀檢測
芯片剪切強度試驗主要是考核芯片與(yu) 底座的附著強度,評價(jia) 芯片安裝在底座上所使用的材料和工藝步驟的可靠性,是對芯片封裝質量的測試方法。
根據剪切力的大小來判斷芯片封裝的質量是否符合要求,並根據芯片剪切時失效的位置和失效模式來及時糾正芯片封裝過程中所發生的問題。
所有微電子器件