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我們(men) 的項目
X-RAY檢測
功能檢測
粒子碰撞噪聲檢測
密封
內(nei) 部水汽含量
超聲波掃描(SAT檢測)
可焊性測試
開蓋測試
鍵合強度
芯片剪切強度
結構
外觀檢測
根據可焊性測試的相關(guan) 標準,模擬芯片上機過程以檢測芯片管腳的上錫程度是否達到焊接標準的要求,以此來判斷樣品管腳能否正常的焊接。
引腳測試端被新的焊料層覆蓋麵積超過95%以上為(wei) 合格
集成電路、IC芯片、半導體(ti)