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我們(men) 的項目
X-RAY檢測
功能檢測
粒子碰撞噪聲檢測
密封
內(nei) 部水汽含量
超聲波掃描(SAT檢測)
可焊性測試
開蓋測試
鍵合強度
芯片剪切強度
結構
外觀檢測
顆粒碰撞噪聲檢測目的是檢測器件封裝腔體(ti) 內(nei) 存在的自由粒子,這是一種非破壞性試驗,當粒子質量足夠大時,通過它們(men) 與(yu) 器件封裝殼體(ti) 碰撞時激勵換能器而被檢測出來。
通過一定頻率的振動,使多餘(yu) 物在係統內(nei) 產(chan) 生位移,檢測出封裝內(nei) 的多餘(yu) 物鬆散顆粒
所有空腔封裝器件