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Project我們(men) 的項目
拉力試驗
芯片強度試驗
高應變率-振動試驗
低應變率-板彎/彎曲試驗
高應變率-機械衝(chong) 擊試驗
芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗
芯片封裝完整性-封裝體(ti) 完整性測試
三綜合(溫度、濕度、振動)
四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
自由跌落
紙箱抗壓
板階可靠性(Board Level)相關(guan) 測試藉由模擬外來應力(Stress),評估對元器件結合所造成的強度,以及重複使用次數對產(chan) 品未來的使用壽命之影響。
主要是以焊錫(Solder)做為(wei) 導通連結,後續延伸設計可采用PCB金手指、USB接頭與(yu) 其他多種非焊錫連結方式
集成電路